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薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀 詳細(xì)摘要: 薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:長(zhǎng)春市 更新時(shí)間:2025-02-10 在線留言